電壓檢測芯片準(zhǔn)備規(guī)劃
為SoC設(shè)備所做的逐塊測試規(guī)劃必須實(shí)現(xiàn):正確配置用于邏輯測試的ATPG工具;測試時(shí)間短;新型高速故障模型以及多種內(nèi)存或小型陣列測試。對(duì)生產(chǎn)線而言,診斷方法不僅要找到故障,而且還要將故障節(jié)點(diǎn)與工作正常的節(jié)點(diǎn)分離開來。此外,只要有可能,應(yīng)該采用測試復(fù)用技術(shù)以節(jié)約測試時(shí)間。在高集成度IC測試領(lǐng)域,ATPG和IDDQ的可測試性設(shè)計(jì)技術(shù)具備強(qiáng)大的故障分離機(jī)制。
電壓檢測芯片需要提前規(guī)劃的其他實(shí)際參數(shù)包括:需要掃描的管腳數(shù)目和每個(gè)管腳端的內(nèi)存數(shù)量??梢栽赟oC上嵌入邊界掃描,但并不限于電路板或多芯片模塊上的互連測試。
盡管電壓檢測芯片尺寸在不斷減小,但一個(gè)芯片依然可封裝幾百萬個(gè)到上1億個(gè)晶體管,測試模式的數(shù)目已經(jīng)增加到****的程度,從而導(dǎo)致測試周期變長,這一問題可以通過將測試模式壓縮來解決,壓縮比可以達(dá)到20%至60%。對(duì)現(xiàn)在的大規(guī)模芯片設(shè)計(jì),為避免出現(xiàn)容量問題,還有必要找到在64位操作系統(tǒng)上可運(yùn)行的測試軟件。
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